高速相位差测量装置 RE-200

● 可测从0nm开始的低(残留)相位差
● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
(相当于世界最快速的0.1秒以下来处理)
● 无驱动部,重复再现性高
● 设置的测量项目少,测量简单
● 测量波长除了550nm以外,还有各种波长
● Rth测量、全方位角测量
(需要option的自动旋转倾斜治具
● 通过与拉伸试验机组合,可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。)

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