高速LED光学特性仪 LE series

●与产线的控制信号同步

●通过光纤的自由的测试系统

●实现最短2ms~的光谱测量(LE-5400)

●同以往的产品相比,测量演算评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型

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