fluorescence spectrum
Microscopic defects film thickness
Solar Cell IV
Semiconductor Material Testing
Andor Spectrometer
fiber optic spectrometer
Laser spectral analysis
single-point detector
imaging camera
Electrical Test Instruments
EDMUND Optics
Newport Products
Crystal Optical Products
产品信息
specificities
式样
| Film thickness range | 0.1～300 μm |
| 测量幅度 | 500 mm～最大10 m |
| 测定间隔 | 1 ms～ |
| 装置大小(W×D×H） | 81×140×343 mm |
| weights | 4 kg(仅头部) |
| 最大功耗 | AC100 V±10% 125VA |
测量案例
500mm宽的包装薄膜
Quote Now
线扫描膜厚仪【在线型】
●采用线扫描方式检测整面薄膜
●硬件&软件均为创新设计
●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援
●实现高精度测量（已获取专利）
●实现高速测量
●不受偏差影响
●可对应宽幅样品（TD方向最大可测量10m）
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