fluorescence spectrum
Microscopic defects film thickness
Solar Cell IV
Semiconductor Material Testing
Andor Spectrometer
fiber optic spectrometer
Laser spectral analysis
single-point detector
imaging camera
Electrical Test Instruments
EDMUND Optics
Newport Products
Crystal Optical Products
用法
LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass
TFT
SiN / a-Si / 玻璃
有机EL
有机EL / ITO / 玻璃
PDP
介电层/玻璃
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膜厚测量系统 FE-3700/5700
可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。
可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。
LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass
TFT
SiN / a-Si / 玻璃
有机EL
有机EL / ITO / 玻璃
PDP
介电层/玻璃
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