线扫描膜厚仪【离线型】

●全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

●硬件&软件均为创新设计

●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援

●实现高精度测量（已取得专利）

●实现高速测量（500万点以上/分）