SR-750超高分辨率光谱仪

结合创新型的光学器件设计，SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750 可以配用多种附件，拓展应用领域， 在透射/ 反射/ 吸收光谱、Raman 光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中，提供*佳的系统解决方案。

SR-750超高分辨率光谱仪主要特点：

• 分辨率*高可达0.02nm

• 多路光谱优化光路，低串扰，高密度多路光谱探测

• 双探测器出口选项，可安装不同类型探测器满足不同实验需求

• 光学元件镀银选项，保证红外探测器更好的性能

SR-750超高分辨率光谱仪技术参数：

不同光栅对应的分辨率及覆盖带宽：

 

绿色： 无限制自由使用区域；黄色： 可能对系统分辨率产生影响； 红色： 对系统分辨率有影响

光栅效率曲线

简单四步选择光谱仪配置：