线扫描膜厚仪【在线型】

●采用线扫描方式检测整面薄膜

●硬件&软件均为创新设计

●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援

●实现高精度测量（已获取专利）

●实现高速测量

●不受偏差影响

●可对应宽幅样品（TD方向最大可测量10m）