- MOCVD生长机理与外延技术:探讨MOCVD技术的基础理论和最新研究成果。
- MOCVD设备:展示最新的设备创新和技术应用。
- 材料结构与物性:分析新材料的结构特点及物理性能。
- 光电子器件:分享光电子器件在各领域的应用和发展。
- 电力电子器件:讨论电力电子器件的最新进展和挑战。
- 微波射频器件:介绍微波和射频器件的新技术和应用。
- LED智能照明与物联网:探讨LED在智能照明和物联网中的应用。
- 半导体激光器:展示半导体激光器的最新研究成果。
- 光伏/光探测器:交流光伏技术和光探测器的前沿进展。
- 可见光通信技术:探讨可见光通信技术的创新应用。
- IV特性测试:通过精确的电流源和电压源,系统可以准确地测量光电器件在不同条件下的电流-电压(IV)特性,包括短路电流(Isc)、开路电压(Voc)等关键参数。
- 光电流成像:系统配备高精度电控位移台和光电流探测模块,能够实现空间分辨率高达1μm的光电流成像,确保测量结果的准确性。
- IV/IT测试:系统不仅可以进行IV特性测试,还可以进行光电流瞬态(IT)测试,以评估光电器件在不同条件下的响应时间等动态性能。
- 成像测试:除了常规的IV/IT测试外,系统还能进行光电流成像测试,直观地展示光电器件的光电响应分布情况
- 操作界面:系统配备用户友好的操作界面,方便用户进行参数设置和实时监控。
- 数据分析:系统提供数据分析功能,能够生成IV曲线图、IT波形图以及光电流成像图等,帮助用户更好地理解和分析测试结果。
报 到 时 间:2024年7月7日
开幕式时间:2024年7月8日
会议地点:恩施华龙城大酒店(湖北省恩施土家族苗族自治州恩施市施州大道469号)