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量子产率测试系统
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量子产率测试系统

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产品描述
参数

QE-2000瞬间测量绝对量子产率。适用于粉末、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器,大大减少了紫外区域的杂散光。另,采用了积分半球unit,实现了明亮的光学系的同时,运用其再激发荧光補正的优点,可进行高精度的测量。另一个型号QE-2100对应光谱范围广,可进行量子产率的温度依赖性测量或紫外~近红的的波长范围。

 

 

• 可瞬间测量绝对量子产率

• 可去除再激发荧光发光

• 采用了积分半球unit,实现了明亮的光学系• 采用了低杂散光多通道分光检出器,大大减少了紫外区域的杂散光

• 专业软件,操作简单
• 轻松装卸样品测量用cell 
• 小型设计,省空间
• 利用分光器型的激发光源,可选择任意波长
• 可在软件指定激发波长的波长及step的值,进行自动测量

 

• 可用于粉末、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量
• 丰富的解析功能

• 量子率测量

激发波长依赖性测量

• 发光光谱测量

• PL激发光谱测量

• EEM(Excitation Emission Matrix)测量

 

• LED、有机EL用荧光体的量子効率测量

• 膜状样品的透过荧光・反射荧光的量子効率测量

非接触式荧光粉用荧光体样品等

• 量子Dot、荧光探头、生体领域、包接化合物等的荧光测量

• 色素敏化型太阳电池的量子効率测量

• 络化物化合物的测量

QE-2000搭载了积分半球。积分半球与积分球(全球)相比,有以下特点

• 可将非发光部分(手柄等)隔离在外部,有效控制了自我吸收,实现了理想的光学系。
• 通过镜子可将同一测量点的发光强度增加约2倍,测量的感光度好
• 轻松装卸样品测量用cell、划伤积分球内部的风险小


体系如有激发荧光发光干扰,不仅不能观察材料本身的物性,也不能观测到包含装置的特性,无法求出真正的物性值。QE-2000通过利用积分半球的再激发荧光補正的特点,可十分方便地测量出真正的物性值,且精度高。


 

以往的检出器(单色仪),因检测出的紫外区域的杂散光很高,可以说不适合量子効率的测量。大塚电子开发出了去除杂散光的技术,这个问题也得以解决。搭载在QE-2000上的多通道分光检出器,与本公司以往的产品相比,杂散光量约1/5,即使在紫外区域,测量的精度也非常高。 


 

直观明了、使用方便的专业软件。组装好样品测量用cell便可轻松测量量子効率、激发光谱等。


 

型号

QE-2000

波长范围

250nm ~ 800nm (视光谱仪规格)

光谱仪分光元件

全息成像光柵 F=3 f=135 mm

波长精度

±0.3nm

感光元件

电子冷卻型CCD影像感测器

感光元件解析能力

1.2nm / pixel

受光光纤

石英制光纤、外层技术包覆、固定口径φ12 mm

激发光源套件

150W Xe灯 + 分光光柵

激发波长范围

250nm ~ 700nm

波长扫描方式

Sine Bar正弦桿方式

积分半球设备
(HalfMoon)

φ150 mm

功率

700W

 

Option
• 自动取样器
• 样品支架
粉末测量用 SUS304制、有石英盖子
②膜测量用 透过测量用样品支架

 

• 通过温度控制功能(50~300℃),可测量子効率的温度依赖性
• 根据用途构筑光学系,对应各类样品
• 全光束测量检测光、也可用于配光测量
• 其他的波长范围内可更改检出器
• 可对应紫外到近红外的宽频(300~1600nm)式样

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